Leeb 경도계의 경도 환산에는 크게 일반 환산 방식과 특정 환산 방식이 있습니다. 일반환산은 측정된 Leeb 경도값을 재료별로 대략 분류한 일반 환산표에 대입하여 해당 경도값을 구하는 것입니다. 이러한 변환 관계는 수많은 비교 실험을 통해 얻어지며 Leeb 경도 시험기의 펌웨어에서 구체화됩니다. 사용자는 테스트하기 전에 필요한 설정을 하고 적절한 테스트 재료와 경도 표준을 선택하면 됩니다. 구체적인 환산은 현장에서 특정 재료를 대표하는 샘플을 만들어 Leeb 경도 및 기타 경도에 대한 비교 시험을 실시하고 환산표를 수정하여 보다 정확한 경도 값을 얻는 것입니다.
Leeb 경도 시험기와 Rockwell 경도 시험기 사이의 변환 관계는 다음 공식으로 얻을 수 있습니다.
Rockwell 경도 시험기 대 Leeb 경도 시험기: LHRL {{0}} 100 - (100 - LHR) x 0.8, 여기서 LHR은 원래 Rockwell 경도 값을 나타내고 LHRL은 변환된 Leeb를 나타냅니다. 경도 값.
Leeb 경도 시험기를 Rockwell 경도 시험기로 변환: LHR {{0}} (100 - LHRL) / 0.8, 여기서 LHRL은 원래 Leeb 경도 값을 나타내고 LHR은 변환된 Rockwell 경도 값을 나타냅니다.
Leeb 경도 시험기의 작동 원리는 충격 장치를 통해 재료의 경도를 측정하고 이중 코일 기술을 사용하여 충격 및 반발 속도를 계산하여 경도 값을 얻는 것입니다. 마이크로 전자공학 기술의 발전으로 이 기술의 측정 정확도와 반복성은 생산 공정의 요구 사항을 충족할 수 있습니다.